Icon-IR│ブルカージャパン社製（ナノスケール赤外分光分析システム統合AFM）製品紹介│三弘エマテック株式会社
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型式 Icon-IR メーカー ブルカージャパン㈱
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製品説明
Icon-IR基本仕様
スキャンレンジ：XY 90μm
Zノイズフロア：＜50pm RMS
標準イメージモード：PeakForce Tapping、Contact Tapping、FAST Tapping Force Curves、Force modulation
標準IRモード：Contact AFM-IR、Resonance Enhanced AFM-IR、Tapping AFM-IR、Surface Sensitive AFM-IR
レーザー種類：QCL 780~1800cm-1（カイザー）、OPO 1900～2600cm-1（カイザー）、QCL 2700～3600cm-1（カイザー）
選択可能なIRレーザー：中赤外CW/Pレーザー 1900～2600cm-1（カイザー）、中赤外OPOレーザー 2700～3600cm-1（カイザー）
※製品画像はメーカーより許可を得て掲載しています
※機器のスペック仕様は、各メーカーのカタログ掲載値を引用
特徴
機械特性、電気特性技術に加えナノスケール赤外分光分析が単一システムで実現
大型試料対応
ハイパフォーマンス10nm以下
AFMオプション
熱分析オプション：走査型示唆熱顕微鏡(VITA SThM)、局所熱分析(VITA nanoTA)
機械特性オプション：高速弾性率マッピング(PeakForce QNM HA)、動的粘弾性測定(NDMA)、300HzまでのDMA・ヒーター付き(AFM-ｎDMA 300Hz)、DMAレンジを20kHzまで拡張(AFM-ｎDMA 20kHz）、接触共振粘弾性マッピング＋QNM(FFV-CR with QNM-HR）
電気特性オプション：超微小電流測定+QNM(PeakForce TUNA with QNM)、微小電流測定(CAFM)、走査型キャパシタンス顕微鏡(SCM)、走査型拡がり抵抗顕微鏡(SSRM)、走査型マイクロ波インピーダンス顕微鏡(sMIM2.0)、表面電位測定+QNM(KPFM with QNM)、表面電位測定(KPFM-U)、DCUBE TUNA/DCUBE SCM/DCUBE SSRM/DCUBE sMIM/DCUBE PFM
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