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PHI Quantes│アルバック・ファイ社製(走査型デュアルX線光電子分光分析装置)製品紹介│三弘エマテック株式会社

PHI Quantes│アルバック・ファイ社製(走査型デュアルX線光電子分光分析装置)製品紹介│三弘エマテック株式会社
型式 PHI Quantes
メーカー アルバック・ファイ㈱
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製品説明

設置要項

構成:装置本体/ロータリーポンプ/冷却水ユニット/コンピューター用テーブル

本体重量:1105kg

搬入間口:幅130cm以上、高さ185cm以上

電力:200-230V 単相 50 A 50/60Hz 1系統

 

性能

●エネルギー掃引範囲:0~5,450cV

●最高エネルギー分解能(Ag 3d5/2):Cr 0.85 eV以下 Al 0.48eV以下

●最大感度(Ag 3d5/2,半値幅1.3eV以下):Cr 10,000cps  Al 3,000,000cps

●最小分析径(20%-80%, ナイフエッジ方):Cr 14μm以下 Al 7.5μm以下

●X線スキャン範囲:最大1.4mmX1.4mm(連続可変)

●イオン銃加速電圧:0~5kV

●イオン銃ラスター範囲:最大5mmX5mm(連続可変)

●到達圧力:6.7X10⁻⁸Pa以下

 

オプション

アルゴンガスクラスターイオン銃、サンブルポジショニングステーション(SPS)、トランスファーベッセル、処理室用補助チャンバー、試料加熱・冷却機構など

 

※製品画像はメーカーより許可を得て掲載しています

※機器のスペック仕様は、各メーカーのカタログ掲載値を引用

特徴

硬X線を搭載した走査型デュアルX線光電子分光分析装置

●走査型デュアルモノクロX線源

●2線源による容易な同領域測定

●ターンキー帯電中和

●自動分析

●高耐圧アナライザ

 

2つの異なるエネルギー線源で広がる応用範囲

●情報深さの違い

●2線源による角度分解測定

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